Spectrometre fluorescente X din seria EDX，Dispersie de energieXSpectrometru fluorescent cu razeAplică laRoHS & WEEEAnaliza instrucțiunilorMăsurarea grosimei diferitelor membrane metalice, măsurarea grosimei acoperirii industriale, instrucțiuni privind halogeniiClAnaliza elementarăMinere, analiză a componentelor materiilor prime, etc., medii magnetice magnetice și semiconductori și diferite sintezeAnaliza componentelor aurului și metalelor prețioase.
Spectrometre fluorescente X din seria EDXPrincipalele caracteristici
●Analiza domeniului de elementeS-U

●Intervalul de concentraţii pentru elementele analizate 2ppm—100%
●Stabilitate continuă8Testarea orelorRSD<0.25%
● ROHS/WEEETimp de testare100-120Secundă.

●Importul de răcire electrică din SUASi（Pin）Detector

●Răcire electricăSi（Pin）Detector suprafața cristalului15mm2Rezoluţie<155eV
●Tehnologie de procesare a pulsurilor complet digitale

●Raport de vârf excelent, sensibilitate extrem de ridicată la analiza urmelor

● 50KV,50WAutoprotecțieX-Tuburi de raze

●Tehnologie de comutare inteligentă a filtrelor compuse

Caracteristici:

☆Analiza precisă a clorului și a plumbului în vopsele

☆IntegrareFPLegea,AlphaFactorii, Factorii de experiență

☆Dispozitiv de conectare sigură, design cu radiații combinate cu hard și soft

☆Operare simplă, cu un singur clic

☆Software inteligent pentru setarea automată a parametrilor și selectarea filtrelor

☆XProtecţie împotriva supratemperaturii

☆Răcere electronică fără azot lichid sau alte consumabile

Specificații tehnice